納米級質(zhì)控時代:立儀光譜共焦技術(shù)破解 3C 制造中的 mini LED 與屏幕檢測難題
當(dāng) 3C 制造邁入 “納米級精度” 新紀(jì)元,消費者對屏幕顯示效果與設(shè)備輕薄化的極致追求,正倒逼制造環(huán)節(jié)升級 ——0.1 微米級質(zhì)量控制已成為行業(yè)硬性指標(biāo)。作為國產(chǎn)光譜共焦技術(shù)引領(lǐng)者,立儀光譜共焦傳感器憑借 A 系列、D 系列、E 系列產(chǎn)品的 50 納米重復(fù)精度及多材質(zhì)適應(yīng)性,成為 3C 行業(yè)質(zhì)檢環(huán)節(jié)的 “終極武器”。本期將深入解析其三大經(jīng)典應(yīng)用案例,揭秘如何破解精密制造中的檢測難題。案例一:mini LED 點膠掃描 —— 破...
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