2024-07-15
隨著工業(yè)的迅猛發(fā)展，精密測量技術(shù)的重要性日益凸顯。位移測量作為幾何量精準(zhǔn)測定的關(guān)鍵，不僅要求極高的測量精度，還必須適應(yīng)多樣化的環(huán)境條件及材料特性，同時(shí)趨向于實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)、無損傷的檢測方式。相較于傳統(tǒng)的接觸式測量技術(shù)，光譜共焦位移傳感器以其高速、高精度和強(qiáng)適應(yīng)性等顯著優(yōu)勢脫穎而出。本文將深入探討光譜共焦位移傳感器在光伏板硅片測量領(lǐng)域的應(yīng)用。
硅片對(duì)射厚度檢測
檢測需求：
1． 對(duì)射安裝測試硅片的厚度。
2． 精度要求0．005mm
3． 速度要求：1s測試一片料
檢測方式：雙鏡頭對(duì)心安裝，利用一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)厚度的標(biāo)定塊，傳感器記錄下這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)厚度，進(jìn)行標(biāo)定。然后將產(chǎn)品進(jìn)行測量，動(dòng)態(tài)測量多個(gè)點(diǎn)位，將多個(gè)點(diǎn)位的值保存下來，去除最大值最小值，然后余下的數(shù)據(jù)做平均。
檢測結(jié)果：測試五片料32組靜態(tài)重復(fù)性數(shù)據(jù)：靜態(tài)重復(fù)精度最大值為2.013μm；
光伏板硅片柵線厚度測量
測量需求：測量太陽能光伏板硅片刪線的厚度（難點(diǎn)：柵線不是一個(gè)平整面，自身有一定的曲率，對(duì)測量區(qū)域的選擇隨機(jī)性影響較大）。
測試方法：單探頭在二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)上進(jìn)行掃描測量——將需要掃描測量的硅片選擇三個(gè)區(qū)域進(jìn)行標(biāo)記，用光譜共焦單探頭單側(cè)測量（柵線厚度是柵線高度-基底的高度差），掃描過程中得到柵線的輪廓圖，柵線厚度=柵線高度與硅片基底的高度差。
測量結(jié)果：測量結(jié)果數(shù)據(jù)對(duì)比最大誤差區(qū)間為0.001μm左右。
